日本AITEC艾泰克半導體行業檢測應用光源箱LLBGR-AP

  隨著國內半導體行業的飛速發展，應用于半導體行業檢測光源的需求量也越來越大，日本AITEC艾泰克株式會社于1984年7月在日本神奈川縣橫浜市緑區青砥町466成立。AITEC可視光的線光：主要可用于搭配AOI裝置，ONLINE設備，用在面板的各種瑕疵，欠點，灰塵等的檢測，半導體工廠CELL段，ARRY段和成盒段，配合制程 AITEC可視光的線光：主要可用于搭配AOI裝置，ONLINE設備，用在面板的各種瑕疵，欠點，灰塵等的檢測，半導體工廠CELL段，ARRY段和成盒段，配合制程AITEC面光：OFFLINE設備用較多，主要用途是作為背光或大型面狀投射光，對面板表面污垢進行識別；AITEC UV光：主要用于對面板及TFT的貼合，固化，鍍膜還有電路板的刻畫及印刷或特征檢查半導體領軍企業——京東方（BOE），面板優異機臺（GPM、晶彩、由田、TAKAO、DIT、奧寶、V-TECH等）均有搭載AITCE光源

  塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理日本AITEC艾泰克半導體行業檢測應用光源箱AITEC艾泰克LLBGR-AP AITEC艾泰克各類視覺檢測光源，AITEC艾泰克UV-LED光源，AITEC艾泰克同軸光源，AITEC艾泰克背光源，AITEC艾泰克點光源，AITEC艾泰克面光源，AITEC艾泰克條形光源

AITEC艾泰克高亮度漫射光線性照明 日本AITEC LLWG□75NW 

高輝度面照射光源，可上乘確保工件在均勻條件下的擴散光照射

應用于熒光燈面照明的置換及畫像處理用背光照射

一家設計led發光體的表面實裝技術的運用，高出力，擴散均一性光照

高輝度照射，緊湊型框體，自然散熱

應用于電子部品，印刷，食品，醫療等行業

用途實例：

寸法測定，形狀檢查，edge檢查，透過檢查，面陣相機用光源，高精度圖像處理用光源，目視檢查用光源

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aitec艾泰克大型面照明lmwg系列 對廣域試試擴散光式照射-pet瓶子的異物檢查/金屬部品的尺寸測定/大型玻璃基板的欠點檢查

特征：

可確保擴散光進行均一照射的大型照射光源

適合于對熒光燈面照明進行置換或者圖像處理用的北京光源來進行使用

發光面積為300*300mm，200*500mm的大尺寸光源

可配合工件德形狀對光源的形狀和大小進行調整，可作為特制操作

適用于高機能film，印刷，食品，醫療品檢查等行業

用途實例：

寸法測定，形狀檢查，edge檢查，透過檢查，面陣相機用光源，高精度圖像處理用光源，目視檢查用光源

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aitec艾泰克窄光子光束式照明llnb系列-金屬部品的形狀檢查

特征：

接近鐳射光效果的led式窄光子光束型光源

可配合工件特性，適合的發光色進行選擇

于鐳射光不同，發射光線中不含有會對圖像處理產生影響的頻譜雜訊

借由白色照射光，更快獲取工件的色彩紋理

相對鐳射光危險性小，更易構造**的作業環境

aitec艾泰克高輝度光源box llbk系列

特征：

輕量，超小化設計，適合aoi裝置內使用

電力供給方式可按照需求操作，在dc24v（標配），ac adaotor(選配）進行選擇

鹵素燈，光纖用光源置換用途，白?赤?緑?青、ｕｖ（365nm、385nm、405nm）

同時搭載可變焦光學架構，集光照射規格可特制化，供客戶選擇

可靈活應用于各式各樣的應用

用途實例：

各種光纖用導光纖用光源，石英導光棒用光源，線陣相機用光源，面陣相機用光源，目視檢查用光源，高精度畫像處理用光源

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aitec艾泰克全彩高輝度光源box （llbgr）

特征：

三色混合全輸出值發光時，實現超越350w金屬鹵素燈以上德光照輸出

外部界面，標準搭載parallel/lan port

適于spot照射用的高照度類型品，適于line式light guide用之高均一度類型品。

開發冷卻系統，確保光照輸出

可匹配各種light guide,可選擇色接口治具

用途例：

各種light guide用光源，石英導光棒用光源，線陣相機用光源，面陣相機用光源，目視檢查用光源，高精度畫像處理用光源

鋼板檢查，玻璃檢查，紙張檢查，金屬表面檢查，邊緣檢查，圖像處理，目視檢查，線傳感器，區域傳感器，

llbgr-a-□x□(高照度タイプ)

llbgr-h□a-□x□(高均一タイプ)

aitec艾泰克llbg(led光源)-chip式電容接觸部的檢查

特征：

實現超越250w金屬鹵素燈以上的光照輸出

標準搭載parallel/rs232c/lan port 標準裝備作為外接界面

搭配不同光纖，推薦φ3-8mm φ8-20mm可選

獨自開發冷卻系統，確保光照輸出安定化

可匹配各種light guide 對接口治具可以選擇