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OTSUKA大塚電子（顯微分光膜厚儀）的性能特點
日期：2025-12-10 12:49
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摘要：
OTSUKA大塚電子（顯微分光膜厚儀）是一種高精度的薄膜厚度測試儀器。它基于薄膜光學(xué)理論，通過測量不同波長下樣品反射和透射的光強比值，從而計算出樣品厚度。具有高靈敏度、高精度、非接觸式測量、快速測量等特點。
首先，顯微分光膜厚儀具有極高的靈敏度。它可以測量膜厚在幾納米至數(shù)百微米之間的樣品，且對于不同的材料也具有較好的適應(yīng)性。其次，該儀器具有高精度的特點。通過采用高精度的光路設(shè)計和數(shù)據(jù)處理算法，可以實現(xiàn)薄膜厚度的準(zhǔn)確測量，測量誤差一般在1%以內(nèi)。此外，該儀器的非接觸式測量方式，不會對樣品造成物理損傷，具有較好的保護作用。
顯微分光膜厚儀還具有快速測量的特點。由于無需樣品預(yù)處理和其他復(fù)雜的操作步驟，測量速度相對較快。它能夠在幾秒到幾分鐘之間快速完成一次測量。該儀器在實際應(yīng)用中還具有較好的穩(wěn)定性和可靠性。經(jīng)過多次校準(zhǔn)和檢驗，可以保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
總之，顯微分光膜厚儀具有高靈敏度、高精度、非接觸式測量、快速測量等多種特點。它廣泛應(yīng)用于各種薄膜材料的研究和生產(chǎn)過程中。例如，光學(xué)薄膜、光學(xué)膜、半導(dǎo)體薄膜、涂層薄膜、生物醫(yī)學(xué)材料、塑料材料等領(lǐng)域，都具有非常廣泛的應(yīng)用前景。
